Электронная библиотека Веда
Цели библиотеки
Скачать бесплатно
Доставка литературы
Доставка диссертаций
Размещение литературы
Контактные данные
Я ищу:
Библиотечный каталог российских и украинских диссертаций

Вы находитесь:
Диссертационные работы России
Технические науки
Вычислительные машины, системы и сети

Диссертационная работа:

Выборнов Пётр Владимирович. Диагностика параллельных магистралей и памяти бортовых ЦВМ: автореферат дис. ... кандидата технических наук: 05.13.15 / Выборнов Пётр Владимирович;[Место защиты: Московского авиационного института (национального исследовательского университета)].- технических, 2012.- 20 с.

смотреть введение
Введение к работе:

Актуальность работы. Начиная с середины 70-ых годов важной тенденцией в создании навигационно-пилотажных комплексов летательных аппаратов (НІЖ) было постоянно расширяющееся использование средств микропроцессорной техники. Ныне подавляющая часть функций преобразования информации в НИК, связанных с задачами навигации, процессами управления, стабилизации и наведения, реализуется с помощью бортовых цифровых вычислительных машин (БЦВМ). Информационные связи между удалёнными подсистемами комплекса и структурными блоками бортовых вычислительных систем строятся на основе цифровых последовательных каналов передачи данных.

Эффективная диагностика технического состояния вычислительных средств стала одной из важнейших составляющих обеспечения безотказности систем НИК и надёжности летательных аппаратов в целом. Несмотря на существенный прогресс, достигнутый в диагностике бортового оборудования, в том числе и его вычислительных устройств, в отношении узловой части самих цифровых модулей - вычислительного ядра - уровень автоматизации поиска неисправностей остаётся невысоким. Такое положение в данной области применения вычислительной техники объясняется, с одной стороны, исторически складывавшимися приоритетами исследований в цифровой диагностике, а с другой -особенностями применяемых электронных компонентов.

Проверки, которые производятся после изготовления вычислительных модулей БЦВМ и в ходе их испытаний, показали, что от 70 до 90% (в зависимости от типа модуля) всех неисправностей относятся к вычислительному ядру (ВЯ). Подавляющее большинство дефектов ВЯ, порядка 85-90%, приходится на связи микропроцессора (МП) с микросхемами внешней памяти - структуры демультиплексированных параллельных магистралей (ДИМ). Второе по численности место занимают дефекты кристаллов оперативной памяти, составляя в среднем чуть более 10%; небольшой остаток в 1-2% приходится на постоянную память.

Одной из основных проблем тестирования этих структурных компонентов ВЯ является отсутствие методов программной диагностики связей МП с памятью, обеспечивающих достаточную глубину разделения неисправных состояний и пригодных для поиска наиболее часто встречающихся неисправностей - дефектов монтажа и печати. Эта проблема является специфической для вычислительных устройств, созданных на основе не имеющих граничного сканирования микросхем (микропроцессоров, асинхронной памяти, магистральной логики). К подобным устройствам относятся, в частности, модули БЦВМ инерциальных систем управления (ИСУ) тактических ракет. Магистрали в таких устройствах с точки зрения процесса диагностирования составляют одну целостную подсистему с памятью и не могут рассматриваться как отдельный объект.

Традиционно использующиеся тесты, обнаруживая факт неработоспособности подсистемы, являются малоинформативными с точки зрения отделения и определения магистральных дефектов и требуют постановки дополнительных, как правило, трудоёмких программных и электроизмерительных экспериментов. В ряде случаев постановка таких экспериментов в условиях проявления дефекта оказывается невозможной.

Вопросы тестирования кристаллов памяти в целом разработаны достаточно глубоко и всесторонне, обеспечивая эффективное обнаружение т.н. классических дефектов. Однако существующие методы обнаружения кодочувствительных дефектов (PSF - pattern sensitive fault) не обеспечивают приемлемой для этапов наладки и испытаний полноты покрытия. Данный факт обусловлен критериями построения этих тестов, которые ориентированы на применение в аппаратуре самотестирования и должны удовлетворять довольно жёстким временным ограничениям, а также объективной сложностью обнаружения этих дефектов. Очевидно, что недостаточная степень выявления кодочувствительных дефектов на этапе испытаний существенно снижает вероятность безотказной работы БЦВМ в условиях эксплуатации.

Таким образом, существует необходимость создания специализированных магистральных тестов и усовершенствования методов проверки памяти в целях повышения эффективности диагностики: увеличения глубины разделения неисправных состояний, охвата максимального количества реально существующих типов дефектов, повышения достоверности результатов и снижения трудоёмкости процесса. Эта задача является актуальной как для этапа отработки опытных образцов БЦВМ, так и при их серийном производстве.

Целями диссертационной работы являются: разработка подходов, методов и алгоритмов программной диагностики магистральных структур и памяти вычислительных модулей, создание на их основе тестов для обнаружения и локализации дефектов, а также реализация программно-аппаратного комплекса диагностики вычислительных модулей БЦВМ.

Основные результаты работы, выносимые на защиту:

  1. Созданы модели неисправностей Д11М и предложен комплекс подходов и методов построения тестовых последовательностей, позволяющих реализовать максимальную для программного способа диагностики глубину разбиений неисправных состояний Д11М. Адекватность моделей была проверена на реальных устройствах.

  2. Разработаны алгоритмы детектирующей тестовой последовательности и локализующих проверок для Д11М в системах, содержащих статическую оперативную (SRAM) и постоянную (ROM) память. Обнаруживающая и различающая способности алгоритмов были подтверждены экспериментальным путём. На их основе составлены тесты для обнаружения и поиска магистральных дефектов.

  3. Разработан метод генерации шаблонов активации для нередуцированных моделей активных и пассивных кодочувствительных неисправностей PSF3 и PSF4, обеспечивающий их 100%-ное покрытие. Дополнение классических маршевых тестов памяти тестами, составленными по этому методу, позволило существенно увеличить полноту проверки кристаллов SRAM.

  4. Спроектирована и изготовлена специализированная ЦВМ, являющаяся ядром комплекса диагностики. ЦВМ осуществляет тестирование удалённого вычислительного модуля, обеспечивая предписываемые алгоритмами форму и временные параметры тестовых воздействий.

  5. Подготовлено программное обеспечение комплекса диагностики, которое включает операционную систему ЦВМ (ОС) и программу монитора. Разработан интерпретируемый язык CDS, позволивший выполнять программы диагностических тестов в режиме отладки, что обеспечивает наблюдаемость, управляемость и простоту организации процесса диагностирования, т.е. его эффективность.

Методы исследования. Для решения поставленных задач в ходе диссертационного исследования были использованы методы цифровой схемотехники и двоичной алгебры, технической диагностики, тестирования оперативных запоминающих устройств, технологии низкоуровневого и процедурно-ориентированного программирования.

Научная новизна работы. Новыми результатами работы являются алгоритм диагностики ДИМ с максимальной глубиной разбиения неисправных состояний и метод обнаружения кодочувствительных дефектов, обладающий 100%-ным покрытием для дефектов третьего и четвёртого порядков (PSF3 и PSF4). Более детально они представляются следующим образом:

  1. при построении алгоритма диагностики ДИМ применён сигнально-ориентированный подход, подразумевающий нацеленность элементарных проверок на определение состояния магистрального сигнала или группы сигналов;

  2. разработана функциональная классификация магистральных сигналов и связанных с ними неисправностей, и созданы явные модели поведения неисправной системы для всех видов магистральных дефектов;

  3. введены логически неустойчивые типы поведения в модели неисправной системы для повышения достоверности диагноза;

  1. предложен принцип разбиения множества одиночных неисправностей на ранжированные подмножества и маскирования дефектов подчинённых рангов, который определяет последовательность обнаружения групп дефектов при наличии их произвольных сочетаний;

  2. разработаны методы комбинирования неисправных разрядов, на основе которых осуществляется локализация обрывов и замыканий на шинах адреса и данных;

  3. предложены шаблоны тестового заполнения для ROM, как в варианте полного объёма, так и в свободных областях, позволяющие выполнять исчерпывающую диагностику связей с МП без необходимости перезаписи;

  4. предложен принцип упорядочивания множества ячеек массива SRAM и их блоков в зависимости от чётности позиции в адресном пространстве, введены операции регулярного преобразования шаблонов и сформулирована и доказана теорема покрытия парных комбинаций;

  5. на основе принципа чётности позиции, использования регулярных преобразований и теоремы разработан и обоснован метод прямой генерации активирующих шаблонов для нередуцированных моделей PSF3 и PSF4.

Практическая значимость состоит в создании эффективных программных и программно-аппаратных средств тестовой диагностики параллельных магистралей и памяти, которые позволили автоматизировать поиск неисправностей в подсистеме магистраль-память, радикально снизив трудоёмкость наладки вычислительных модулей. На их основе созданы автоматизированные рабочие места для контроля и наладки опытных образцов БЦВМ в ГосНИИП и серийных образцов на заводе-изготовителе БЦВМ.

Алгоритмическая основа магистральных тестов допускает их применение для любой элементной базы, гарантирует нечувствительность к разбросу характеристик драйверов и приёмников сигналов и обеспечивает получение достоверных результатов при произвольных сочетаниях дефектов и наличии логической неустойчивости. Применение бит-ориентированных маршевых тестов, разработанных в работе тестов для PSF3/PSF4, а также тестов переключения адреса и насыщения позволило существенно увеличить полноту проверки кристаллов SRAM. Разработанный комплекс диагностики, наряду со стандартной наладкой, позволяет проводить тестирование памяти при испытаниях модулей в специальных условиях, во время которых проявляется значительная часть дефектов. Комплекс обеспечивает простоту организации, управляемость и наблюдаемость процесса диагностирования. Схемотехнические решения ЦВМ комплекса и её программное обеспечение являются перспективными для использования в задачах диагностики интерфейсных узлов БЦВМ, полунатурного моделирования и отладки рабочих программ, а также в качестве монитора мультиплексированной магистрали.

Апробация работы. Результаты работы представлялись на конференциях молодых учёных и специалистов ГосНИИП (2006 г., 2008 г.), конференциях Московского отделения МОО «Академия навигации и управления движением» (г.Москва, ЦНИИАГ, 2009 г., 2011 г.), конференции «Люльевские чтения» (г. Свердловск, ОКБ «Новатор», 2010 г.).

Публикации. По теме диссертации опубликовано 2 научные работы в журналах, рекомендованных ВАК РФ; результаты работы также нашли отражение в пояснительных записках к двум техническим проектам (ГосНИИП).

Структура и объём работы. Диссертация состоит из введения, трёх глав, заключения, списка литературы и трёх приложений, оформленных в виде отдельной книги. Основной текст изложен на 185-и страницах и содержит 33 рисунка и 26 таблиц. Список источников включает 63 наименования.


© Научная электронная библиотека «Веда», 2003-2013.
info@lib.ua-ru.net