Электронная библиотека Веда
Цели библиотеки
Скачать бесплатно
Доставка литературы
Доставка диссертаций
Размещение литературы
Контактные данные
Я ищу:
Библиотечный каталог российских и украинских диссертаций

Вы находитесь:
Диссертационные работы России
Технические науки
Технология приборостроения

Диссертационная работа:

Вощенко Татьяна Карповна. Исследование и разработка методов модификации поверхности оптических материалов ионной и ионно-химической обработкой : Дис. ... канд. техн. наук : 05.11.14 : Санкт-Петербург, 2004 85 c. РГБ ОД, 61:04-5/3634

Подобные работы
Клепиков Юрий Михайлович
Исследование условий и разработка методики комплектования групп деталей приборов из листовых материалов при их обработке набором сменных штампов
Сисюков Артем Николаевич
Разработка и исследование методов информационного обеспечения ЭС САПР ТП механической обработки деталей
Гребенюк Никита Александрович
Исследование метода и разработка оборудования для диагностики работоспособности электролитов плазменно-электролитической обработки
Котляров Юрий Владимирович
Исследование и разработка технологии обработки подложек для приборных пластин связанным алмазно-абразивным инструментом
Лепе Сергей Николаевич
Разработка и исследование метода калибровки избыточных измерителей ускорения с целью повышения точности БИНС
Бобцова Светлана Владимировна
Исследование и разработка методов использования технологий быстрого прототипирования в приборостроении
Алтухов Андрей Александрович
Разработка и исследование физико-технологических принципов создания микроэлектронных устройств на основе планарных многослойных гетероэпитаксиальных структур Si, CaF2 и CoSi2, сформированных методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Черных Сергей Петрович
Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов
Прокошев, Илья Владимирович
Разработка и исследование информационной системы автоматизированного диагностирования ИНС в процессе стендовых испытаний
Кизнерцев Станислав Рафаилович
Разработка и исследование технологического и аппаратурного обеспечения сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов

© Научная электронная библиотека «Веда», 2003-2013.
info@lib.ua-ru.net